Aplicación de Seis Sigma y los Métodos Taguchi para el Incremento de la Resistencia a la Prueba de Jalón de un Diodo Emisor de Luz

Autor: Varios autores

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Ficha del documento

Título: Aplicación de Seis Sigma y los Métodos Taguchi para el Incremento de la Resistencia a la Prueba de Jalón de un Diodo Emisor de Luz

Autor: Varios autores

Páginas: 14

Tamaño: 0.25 MB

Formato: PDF

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