Aplicación de Seis Sigma y los Métodos Taguchi para el Incremento de la Resistencia a la Prueba de Jalón de un Diodo Emisor de Luz
Autor: Varios autores
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Detalles del Documento
Título: Aplicación de Seis Sigma y los Métodos Taguchi para el Incremento de la Resistencia a la Prueba de Jalón de un Diodo Emisor de Luz
Autor: Varios autores
Descripción: Caso de aplicación de Seis Sigma combinado con los métodos Taguchi para aumentar la resistencia a la prueba de jalón en diodos emisores de luz. Mejora la capacidad del proceso de 0,56 a 1,45 y reduce desperdicio sin inversión adicional. Útil como ejemplo concreto del ciclo DMAMC en electrónica.
Páginas: 15
Tamaño: 0.26 MB
Formato: PDF
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